1、【题目】下列关于缺陷产生原因的叙述中,不属于技术问题的是
选项:
A.文档错误,内容不正确或拼写错误
B.系统结构不合理
C.语法错误
D.接口传递不匹配,导致模块集成出现问题
答案:
B
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暂无解析
1、【题目】下列关于软件缺陷状态的定义,不正确的是
选项:
A.New——测试中新报告的软件缺陷
B.Open——缺陷被确认并分配给相关开发工程师处理
C.Fixed——测试工程师已完成修正,等待开发人员验证
D.Closed——缺陷已被修复
答案:
C
解析:
暂无解析
1、【题目】在极限测试过程中,贯穿始终的是
选项:
A.单元测试和集成测试
B.单元测试和系统测试
C.集成测试和系统测试
D.单元测试和验收测试
答案:
D
解析:
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1、【题目】关于内置式合约测试(BICT),下列说法错误的是()。
选项:
A.增加了测试器构件和测试处理器构件,使被测构件具有自测试能力
B.该测试方法可用于动态、分布式系统
C.提出的模型驱动方法效率很高
D.该测试方法的提出扩展了基于构件的软件I程实践
答案:
C
解析:
暂无解析
1、【题目】下列哪个不属于软件缺陷产生的原因
选项:
A.需求解释有错误B设计说明有误C软件代码有误D操作系统有误
B.设计说明有误
C.软件代码有误
D.操作系统有误
答案:
D
解析:
暂无解析
1、【题目】关于测试的策划,说法不正确的是
选项:
A.测试设计的任务是执行测试用例,需要时也可以将测试用例设计与执行并行开展
B.若系统对质量要求很高,则需要开展多次的回归测试验证
C.在实际软件项目中,一个测试团队可能大都是骨干人员
D.测试团队的规模与被测系统规模、测试方资料调度情况有关
答案:
C
解析:
暂无解析
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